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JASIS 分析展 2012 出展のお知らせ

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9月5日(水)~7日(金)までの3日間、幕張メッセ国際展示場にて開催されるJASIS 2012 分析展
テーラーホブソン事業部、エダックス事業部、カメカ事業部、スペクトロ事業部の4事業部が出展いたします。


会期:    2012年9月5日(水)~9月7日(金)
会場:    幕張メッセ国際展示場 (アクセスマップ)
ブース番号:8ホール 8B-502





【出展製品】
現在、下記にて予定いたしております。
(変更する場合がございます)

TH new Logo  テーラーホブソン事業部

     ● 超精密非接触三次元プロファイラCCI HD (実機、パネル展示)

 エダックス.jpg     エダックス事業部

     ● エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置 ORBIS (実機、パネル展示)
     ● エネルギー分散型X線分析装置 (電子顕微鏡用) GENESIS / TEAM (実機、パネル展示)
     ● シリコンドリフト検出器 APOLLO (実機、パネル展示)
     ● 電子線結晶方位解析装置 (電子顕微鏡用) PEGASUS (パネル展示)
     ● 平行ビーム波長分析型X線分析装置 (電子顕微鏡用) NEPTUNE (パネル展示)

 カメカ.jpg    カメカ事業部

     ● 二次イオン質量分析計 SIMS
     ● 3次元アトムプローブ 3DAP
     ● 波長分散型X線マイクロアナライザ EPMA
     ● 低エネルギーX線分析法 Shallow Probe
      (すべてパネル展示)

 スペクトロ.jpg    スペクトロ事業部 

     ● 蛍光X線分析装置 SPECTRO XEPOS(実機、パネル展示)
     ● ハンドヘルド蛍光X線分析装置 SPECTRO xSORT(Metal/Non Metal)(実機、パネル展示)




【新技術説明会】

*テーラーホブソン事業部
9月6日(木) 15:50~16:15 
「CCIによる表面性状計測と膜厚測定」
会場: A-2  アパホテル&リゾート 東京ベイ幕張


*エダックス事業部
9月7日(金) 13:50~14:15 
「速い!大面積シリコンドリフト検出器:Apollo XF」
会場: N-1  ホテルニューオータニ幕張 




以下の分析展ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
http://www.jasis.jp/2012/randing/attend-idea.html


皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2012年06月21日  新着情報

TMC事業部のページをアップ致しました。

TMC Logo.jpg

TMCは半導体製造装置、検査装置、フォトニクス、および生命科学分野における環境ノイズ(振動、騒音、磁場)をキャンセルするパッシブ・アクティブシステム及びその周辺関連装置の開発、設計、製造を手掛ける世界のトップメーカです。

TMC事業部HPはこちら(英語)


製品に関するお問い合わせ
jin.bereder@ametek.co.jp

2012年06月19日  新着情報

アトラス事業部

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促進耐候試験

・ Ci3000, Ci4000, Ci5000 キセノンアークウェザーオメター®
・ ソーラー シミュレーションシリーズ メタルハライド環境試験機
・ 屋外暴露試験サービス

アトラスは耐候試験において革新的な開発を行ってまいりました。豊富な耐候機器、屋外暴露試験や促進耐候試験サービス、カスタムソーラーシュミレーションシステム、そして世界中で技術サポートを提供しております。


Atlas DSET_2009-10-29_01.JPG   Atlas SC 600_Door Open.jpg

   屋外暴露試験サービス          メタルハライド環境試験機


製品に関するお問い合わせは安田までお問い合わせください。
E-Mail : miho.yasuda@ametek.co.jp
Phone : 06-6399-9511



アトラスHPはこちら(英語)

2012年06月04日  新着情報

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