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エダックス事業部 日本顕微鏡学会第73回学術講演会 出展のお知らせ

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エダックス.jpg     エダックス事業部


2017年 5月30日(火)~6月1日(木)に開催されます日本顕微鏡学会第73回学術講演会にエダックス事業部が出展いたします。


 会  期:  2017年 5月30日(火)~6月1日(木) 

 開催場所:  札幌コンベンションセンター    (会場へのアクセス

 展示小間:  16
   
 出展製品:  
●エネルギー分散型X線分析装置 (電子顕微鏡用)Element用 APEXソフトウェアプラットフォーム (フライヤー)
●シリコンドリフト検出器(電子顕微鏡用) OCTANE Elite, Elect, Element (パネル展示)


皆様のご来場を心よりお待ちしております。

2017年05月23日  新着情報

OPIE'17 レンズ設計・製造展に出展いたします

img19_file.gif×PR-logo.jpg×TMC


アメテック株式会社テーラーホブソン事業部は加工機製造販売のプレシテック事業部ならびに除振台製造販売のTMC事業部と共同で、例年通りOPIE'17 レンズ設計・製造展に出展いたします。


会期:4月19日(水)-21日(金) 10:00~17:00
場所:パシフィコ横浜 アネックスホール
ブース番号:I-2



弊事業部からは非接触で高速に、かつ高精度に光学部品全体の「形状測定」が可能でご好評を頂いておりますLUPHOScan 260SDモデルを出展いたします。

昨年はかつてない高精度(90度傾斜部で形状精度±50nm[3σ]を達成)LUPHOScan 260HDモデルをリリースさせていただき、
4Kレンズや8Kレンズ等更なる高精度化を要求される用途を始めとしてご好評を頂きました。

また昨年の出展から、ゲームを始めとしたVR産業の勃興に従い、これまでなかった高精度化を要求されるフレネルレンズの測定に対応し、ノイズ低減により裏面反射の影響を抑えよりモバイル用等でより薄いレンズへの対応が可能になったソフトウェア・アップデートが実施され、本年は更に小径部品用にLUPHOScan 120HDをリリースさせていただく予定です。

光学部品の測定評価で課題をお抱えのお客様は、是非この機会に弊社ブースにお越しいただければ幸いです。

本展示会はウェブサイトからの事前登録で当日無料入場が可能となっておりますので、下記ウェブサイトよりご登録頂くか、テーラーホブソン事業部HP(こちら)最下部の申し込みフォームから必要な入場券枚数を弊社にお申し付け下さい。郵送させていただきます。

http://www.opie.jp/regist_form.php


【出展製品】

高精度非接触三次元レンズ形状測定システム LUPHOScan 260SD

超精密加工機 Nanoform X

除振台 CleanBench

2017年04月04日  展示会情報

CTS事業部 EMC・ノイズ対策技術展出展のお知らせ

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2017年4月19日(水)~21日(金)に開催されますテクノフロンティア2017 EMC・ノイズ対策技術展にCTS事業部が出展いたします。


 会  期:  2017年4月19日(水)~21日(金) 

 開場時間:  10:00~17:00 

 開催場所:  幕張メッセ(国際展示場 展示ホール4~7)   (会場へのアクセス

 展示小間:  5K-36
   
 展示機器:  コンパクト広帯域パワーアンプCBAシリーズ他

TESEQ.jpg MILMEGA.jpg ifi.jpg emtest.jpg


以下展示会ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
https://jmacv.herokuapp.com/tf2017/visitors/confirmmail

また、別途招待状をご希望の場合は下記までお問い合わせください。
email:cts-japan.sales@ametek.com


皆様のご来場を心よりお待ちしております。

2017年03月07日  新着情報

第28回日本工作機械見本市 JIMTOF2016 出展のご案内

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TH new Logo  テーラーホブソン事業部


2016年11月17日(木)~22日(火)に開催されます、JIMTOF2016にテーラーホブソン事業部が出展いたします。
接触・非接触の幾何形状測定、表面粗さを含む表面性状測定のソリューションにご興味あるお客様は、是非お立ち寄りを頂きますよう、よろしくお願い申し上げます。

会期: 2016年11月17日(木)~22日(火)
場所: 東京ビッグサイト 西3ホール (会場へのアクセス)
ブース番号: W3030

>>出展内容詳細はこちらを御覧ください。


皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2016年09月16日  新着情報

JASIS2016 出展のご案内

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2016年9月7日(水)~9日(金)の3日間、幕張メッセ国際展示場にて開催予定の JASIS 2016 分析展に
カメカ事業部、エダックス事業部、スペクトロ事業部、TMC事業部 の4事業部が出展いたします。
今年はセイコー・イージーアンドジー株式会社との共同出展となります。
是非この機会に弊社ブースへお立ち寄りくださいます様、よろしくお願いいたします。


●会期:     2015年9月7日(水)~9月9日(金)
●会場:     幕張メッセ国際展示場 〒261-0023 千葉市美浜区中瀬2-1 (アクセスマップ) 
●ブース番号:  5ホール 5A-403


●出展製品:

カメカ.jpg   カメカ事業部

     ● 二次イオン質量分析計 SIMS 
       (IMS 7f-Auto, 1300HR3, KLEORA 新製品, NanoSIMS50L, Wf&SC Ultra)

     ● 3次元アトムプローブ 3DAP (LEAP5000, EIKOS) 新製品
     ● 波長分散型X線マイクロアナライザ EPMA (SX Five)
     ● 低エネルギーX線分析法 Shallow Probe (EX-300)
       (すべてバナー展示)


エダックス.jpg     エダックス事業部

     
     ● エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置 ORBIS (実機、パネル展示)     
     ● エネルギー分散型X線分析装置(電子顕微鏡用) TEAM EDS (パネル展示)
     ● シリコンナイトライドSDD検出器(電子顕微鏡用) Octane Elite (実機・パネル展示)新製品
     ● シリコンナイトライドSDD検出器(電子顕微鏡用) Element (実機、パネル展示)新製品
     ● EDS/WDSインテグレーションシステム(電子顕微鏡用) Neptune (パネル展示)
     ● EDS/EBSDインテグレーションシステム(電子顕微鏡用) Pegasus (パネル展示)
     ● EDS/WDS/EBSDインテグレーションシステム(電子顕微鏡用) Trident (パネル展示) 


スペクトロ.jpg    スペクトロ事業部
     
     ● ハンドヘルド蛍光X線分析装置 SPECTRO xSORT(Metal/Non Metal) (実機、パネル展示)
     


TMC    TMC事業部
     
     ● 卓上型アクティブ除振台 Everstill™ (実機・パネル展示)新製品
     ● デスク形パッシブ除振台 CleanBench™ (実機・パネル展示)新製品
     ● SEM用薄型アクティブ除振台 STACIS®iX SEM-Base™ (実機、パネル展示)
     ● 高性能アクティブ除振装置 STATICS®Ⅲ (パネル展示)
     


皆様のご来場を心よりお待ちいたしております。

2016年07月12日  新着情報

人とくるまのテクノロジー展2016 出展のお知らせ

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atlas.jpg  アトラス事業部

2016年6月29日(水)~7月1日(金)に開催されます人とくるまのテクノロジー展2016名古屋にアトラス事業部が出展いたします。

開催展名: 自動車技術展 人とくるまのテクノロジー展2016名古屋
会 期:   2016年6月29日(水)~7月1日(金)
会 場:   ポートメッセ名古屋【名古屋市国際展示場】 (来場のご案内)
ブース:   165



以下の展示会ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
http://expo-nagoya.jsae.or.jp/access/

展示会のご案内.pdf展示会のご案内


皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2016年05月18日  新着情報

CTS事業部 EMC・ノイズ対策技術展出展のお知らせ

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AME130_RGB.jpg  CTS事業部


2016年4月20日(水)~22日(金)に開催されますテクノフロンティア2016 EMC・ノイズ対策技術展にCTS事業部が出展いたします。




 
 会  期:  2016年4月20日(水)~21日(金) 

 開場時間:  10:00~17:00 

 開催場所:  幕張メッセ(国際展示場 展示ホール4~8)   アクセスマップ

 展示小間:  6B-207 
   
 展示機器:  コンパクト広帯域パワーアンプCBAシリーズ他
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以下展示会ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
https://www.jma.or.jp/tf/ja/visit/index.html


皆様のご来場を心よりお待ちしております。



2016年04月11日  新着情報

サーフェースビジョン事業部 高機能フィルム展 出展のお知らせ

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高機能フィルム展 出展


2016年4月6日(水)~4月8日(金)に開催されます第7回高機能フィルム展にサーフェースビジョン事業部が出展いたします。




 
 会   期:  2016年4月6日(水)~4月8日(金) 

 開場時間:  10:00~18:00(最終日は17:00まで) 

 開催場所:  東京ビッグサイト   アクセスマップ

 展示小間:  東ホール E15-28 
 
 入場費用:  無料
        ご来場お申込みはこちら


 展示機器:  -SmartView 欠陥検査システム
      -SmartAdvisor 生産工程モニタリングシステム

詳細はこちらをご覧ください。

皆様のご来場を心よりお待ちしております。


2016年03月25日  新着情報

スペクトロ事業部 高機能 金属展 出展のお知らせ

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高機能 金属展 ~メタルジャパン~ 出展


2016年4月6日(水)~4月8日(金)に開催されます第3回高機能 金属展にスペクトロ事業部が出展いたします。




 
 会   期:  2016年4月6日(水)~4月8日(金) 

 開場時間:  10:00~18:00(最終日は17:00まで) 

 開催場所:  東京ビッグサイト   アクセスマップ

 展示小間:  西3ホール W4-32 
 
 入場費用:  無料
        ご来場お申込みはこちら


 展示機器:  -据置型固体金属発光分光分析装置 SPECTROMAXx
        -可搬型固体金属発光分光分析装置 SPECTROTEST
        -ハンドヘルド固体金属蛍光X線分析装置 SPECTRO xSORT

皆様のご来場を心よりお待ちしております。



2016年03月02日  新着情報

計測展2015 出展のお知らせ

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Landlogo.jpg  ランド事業部

12月2日(水)~12月4日(金)に開催されます計測展2015にランド事業部が出展いたします。

開催展名: 計測展2015
会 期:   2015年12月2日(水)~12月4日(金)
会 場:   東京ビックサイト 西2ホール (会場までのアクセス)
ブース:   M1-07


出展予定製品:


最新の放射温度計「SPOTシリーズ」のデモと、サーマルイメージャ「NIR-b」の実機展示を行います。

「SPOTシリーズ」は、従来必要とした、プロセッサを不要としたモデルです。
全ての機能を、温度計本体に集約し、制御側とのデジタル/アナログ通信を可能としました。

「NIR-b」は、工業炉内監視用に設計されたサーマルイメージャです。
ガラス溶解炉、ガス化改質炉、鉄鋼再加熱炉、ロータリーキルンなど、多くのアプリケーションで応用が可能です。

この他、火炎・表面温度監視用サーマルイメージャ「ARC」、走査型放射温度計「LSP HDシリーズ」、携帯型放射温度計「Cyclopsシリーズ」もご紹介させて頂く予定です。



皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2015年11月11日  新着情報

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