NEWS一覧

人とくるまのテクノロジー展2016 出展のお知らせ

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atlas.jpg  アトラス事業部

2016年6月29日(水)~7月1日(金)に開催されます人とくるまのテクノロジー展2016名古屋にアトラス事業部が出展いたします。

開催展名: 自動車技術展 人とくるまのテクノロジー展2016名古屋
会 期:   2016年6月29日(水)~7月1日(金)
会 場:   ポートメッセ名古屋【名古屋市国際展示場】 (来場のご案内)
ブース:   165



以下の展示会ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
http://expo-nagoya.jsae.or.jp/access/


皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2016年05月18日  新着情報

G.W.休業のお知らせ

誠に勝手ながら弊社では、下記の期間をゴールデンウィーク休業とさせていただきます。


       2016年4月29日(金)~2016年5月8日(日)
          5月9日(月)より通常業務致します。



休業中にいただいたメール・FAXでのお問い合わせ等につきましては5月9日以降のご連絡となります。
ご返答までに少しお時間をいただく場合がございますことを、予めご了承ください。

ご迷惑をおかけしますが、何卒ご了承の程宜しくお願い申し上げます。

2016年04月12日  新着情報

CTS事業部 EMC・ノイズ対策技術展出展のお知らせ

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AME130_RGB.jpg  CTS事業部


2016年4月20日(水)~22日(金)に開催されますテクノフロンティア2016 EMC・ノイズ対策技術展にCTS事業部が出展いたします。




 
 会  期:  2016年4月20日(水)~21日(金) 

 開場時間:  10:00~17:00 

 開催場所:  幕張メッセ(国際展示場 展示ホール4~8)   アクセスマップ

 展示小間:  6B-207 
   
 展示機器:  コンパクト広帯域パワーアンプCBAシリーズ他
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以下展示会ホームページより事前登録の上、ご来場下さい。
https://www.jma.or.jp/tf/ja/visit/index.html


皆様のご来場を心よりお待ちしております。



2016年04月11日  新着情報

サーフェースビジョン事業部 高機能フィルム展 出展のお知らせ

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高機能フィルム展 出展


2016年4月6日(水)~4月8日(金)に開催されます第7回高機能フィルム展にサーフェースビジョン事業部が出展いたします。




 
 会   期:  2016年4月6日(水)~4月8日(金) 

 開場時間:  10:00~18:00(最終日は17:00まで) 

 開催場所:  東京ビッグサイト   アクセスマップ

 展示小間:  東ホール E15-28 
 
 入場費用:  無料
        ご来場お申込みはこちら


 展示機器:  -SmartView 欠陥検査システム
      -SmartAdvisor 生産工程モニタリングシステム

詳細はこちらをご覧ください。

皆様のご来場を心よりお待ちしております。


2016年03月25日  新着情報

スペクトロ事業部 高機能 金属展 出展のお知らせ

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高機能 金属展 ~メタルジャパン~ 出展


2016年4月6日(水)~4月8日(金)に開催されます第3回高機能 金属展にスペクトロ事業部が出展いたします。




 
 会   期:  2016年4月6日(水)~4月8日(金) 

 開場時間:  10:00~18:00(最終日は17:00まで) 

 開催場所:  東京ビッグサイト   アクセスマップ

 展示小間:  西3ホール W4-32 
 
 入場費用:  無料
        ご来場お申込みはこちら


 展示機器:  -据置型固体金属発光分光分析装置 SPECTROMAXx
        -可搬型固体金属発光分光分析装置 SPECTROTEST
        -ハンドヘルド固体金属蛍光X線分析装置 SPECTRO xSORT

皆様のご来場を心よりお待ちしております。



2016年03月02日  新着情報

EDAX 2016年度ユーザーズスクール開催のお知らせ

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2016年度 EDAXユーザーズスクール開催


平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。

EDAX事業部では、下記の通りEDAX製品のユーザー様向けに 「EDAXユーザーズスクール」 を開催いたしております。

是非この機会にご参加くださいます様、何卒よろしくお願い申し上げます。




開催日程

          コース  / ソフトウェア                        期  間                                    会 場    
172/ Genesis  2016年4月7日(木)~4月8日(金)        大阪
 173 / TEAM   2016年7月5日(木)~7月6日(金)        東京
 174 / TEAM   2016年7月21日(木)~7月22日(金)      大阪
 175 / Genesis  2016年10月18日(木)~10月19日(金)    東京
 176 / Genesis  2016年11月10日(木)~11月11日(金)    大阪

会場予定

東京会場:  日本赤十字ビル 202 会議室予定
             〒105-0012 東京都港区芝大門1-1-3 


  大阪会場:  メルパルクOSAKA 6階 会議室予定
             〒532-0003 大阪市淀川区宮原4-2-1 


*詳細につきましてはEDAX事業部 営業部(TEL : 03-6809-2404)まで
お気軽にお問い合わせください。


2016年02月25日  新着情報

年末年始休業のお知らせ

誠に勝手ながら弊社では、下記の期間を年末年始休業とさせていただきます。


       2015年12月26日(土)~2016年1月4日(月)
          1月5日(火)より通常業務致します。



休業中にいただいたメール・FAXでのお問い合わせ等につきましては1月5日以降のご連絡となります。
ご返答までに少しお時間をいただく場合がございますことを、予めご了承ください。

ご迷惑をおかけしますが、何卒ご了承の程宜しくお願い申し上げます。

2015年12月15日  新着情報

計測展2015 出展のお知らせ

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Landlogo.jpg  ランド事業部

12月2日(水)~12月4日(金)に開催されます計測展2015にランド事業部が出展いたします。

開催展名: 計測展2015
会 期:   2015年12月2日(水)~12月4日(金)
会 場:   東京ビックサイト 西2ホール (会場までのアクセス)
ブース:   M1-07


出展予定製品:


最新の放射温度計「SPOTシリーズ」のデモと、サーマルイメージャ「NIR-b」の実機展示を行います。

「SPOTシリーズ」は、従来必要とした、プロセッサを不要としたモデルです。
全ての機能を、温度計本体に集約し、制御側とのデジタル/アナログ通信を可能としました。

「NIR-b」は、工業炉内監視用に設計されたサーマルイメージャです。
ガラス溶解炉、ガス化改質炉、鉄鋼再加熱炉、ロータリーキルンなど、多くのアプリケーションで応用が可能です。

この他、火炎・表面温度監視用サーマルイメージャ「ARC」、走査型放射温度計「LSP HDシリーズ」、携帯型放射温度計「Cyclopsシリーズ」もご紹介させて頂く予定です。



皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

2015年11月11日  新着情報

コグネックス社 表面検査システム事業部買収のお知らせ


AMETEKは2015年7月6日にコグネックス社表面検査システム事業部(COGNEX Corporation, Surface Inspection System Division)を買収したことをお知らせいたします。

それに伴い、コグネックス株式会社表面検査システム事業部は、下記の住所に事務所を移転し、
「アメテック株式会社サーフェースビジョン事業部」として営業を開始いたしました。

 アメテック株式会社
 サーフェースビジョン事業部
 東京都芝大門1-1-30 芝NBFタワー3階
 TEL. 03-6809-1802
 
コグネックス社表面検査システム事業部は、鉄鋼・アルミ・紙パルプ・フィルム・不織布・ガラスなどの連続プロセスにおける欠陥検査システムの世界的なサプライヤーです。

今回の買収により、当社の生産プロセス検査・解析事業(AMETEK Process & Analytical Instruments)において新たな価値を創造し、より一層お客様のご期待にお応えしたいと考えております。

詳しくは社名変更および事務所移転のお知らせ(アメテック).pdfこちらをご覧ください。


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2015年11月02日  サーフェースビジョン事業部

CAMECA NEWS letter October 2015 が発行されました

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フランス CAMECA社よりNews letter October 2015 が発行されました。

詳しくはこちらをご覧ください。


CAMECA e-newsletter October 2015.pdfCAMECA e-newsletter October 2015.pdf


主な見出し


- 3次元アトムプローブの各分析事例のご紹介

- 豪 カーティン大学に導入されたLEAP、地球科学分野の分析開始

- IMS 7f-AutoのLED照明とディスプレイデバイスの分析事例ご紹介

- IMS 1280-HR のウラン鉛年代測定の利用例ご紹介

- NanoSIMS50L 新型RFプラズマイオン源搭載による酸素イオンビームの性能改善例ご紹介

- CAMECAのEPMAによるLEDデバイス分析例ご紹介

- EX-300の不揮発性メモリ材料の測定事例ご紹介


どうぞご一読ください。

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ご意見ご感想はこちらまで
cameca-japan.info@ametek.co.jp

2015年10月30日  新着情報

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